...
机译:不同铁磁材料的TMR和MTJ存储器件的旋转分流,厚度和氧化物屏障高度的变化
Jadavpur Univ ETCE Dept NanoDevice Simulat Lab Kolkata 32 India;
IIEST Sch VLSI Technol Sibpur 711103 India;
IIEST Sch VLSI Technol Sibpur 711103 India;
Jadavpur Univ ETCE Dept NanoDevice Simulat Lab Kolkata 32 India;
MTJ; TMR; STT-RAM; NEGF; Spin-Split;
机译:不同铁磁材料的TMR和MTJ存储器件的旋转分流,厚度和氧化物屏障高度的变化
机译:TiW势垒层厚度依赖性过渡从基于ZrO_2的电阻切换随机存取存储器件中的电化学金属化存储过渡到价变化存储的影响
机译:镜像力对MOS结构中势垒高度的影响:校正后的势垒高度与温度和氧化物厚度的相关性
机译:MTJ存储器中Ni3GeFe2 / Fe3GeTe2复合材料作为铁磁层的性能分析
机译:肖特基器件中势垒高度调整的研究。
机译:纳米级厚铁扩散阻挡层使具有顶部Co2Fe6B2自由层的双MgO基p-MTJ自旋阀具有更高的TMR比和Δ。
机译:用于非易失性存储器可变氧化物厚度隧道屏障的高k复合介质材料的优化