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机译:通过反转提高伪随机故障覆盖:测试点架构研究
Design for test; Built-in self-test; Test points; Delay test;
机译:通过反转提高伪随机故障覆盖:测试点架构研究
机译:基于危害的检测条件,提高了基于扫描的测试的过渡故障覆盖率
机译:通过插入观察点来提高功能性宽边试验的过渡故障覆盖率
机译:使用反演测试点改善随机模式延迟故障覆盖率
机译:协议测试层次结构,最大的故障覆盖率和故障诊断。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:在有限状态机测试时,改善故障覆盖范围并最大限度地降低故障识别成本