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机译:社会响应量规模(SRS)与纵向皮质厚度变化的自闭症谱系疾病
Univ Utah Dept Pediat Salt Lake City UT 84112 USA;
Brigham Young Univ Dept Psychol Provo UT 84602 USA;
Univ Wisconsin Waisman Ctr Madison WI 53705 USA;
Univ Utah Dept Psychol Salt Lake City UT 84112 USA;
Brigham Young Univ Dept Psychol Provo UT 84602 USA;
Univ Utah Dept Radiol Salt Lake City UT 84132 USA;
Univ Wisconsin Waisman Ctr Madison WI 53705 USA;
Harvard Univ McLean Hosp Cambridge MA 02138 USA;
Univ Wisconsin Waisman Ctr Madison WI 53705 USA;
Univ Utah Dept Pediat Salt Lake City UT 84112 USA;
Autism spectrum disorder (ASD); Social Responsiveness Scale (SRS); Cortical thickness; Brain development; Longitudinal; Autism severity;
机译:社会响应量规模(SRS)与纵向皮质厚度变化的自闭症谱系疾病
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机译:社会响应量表(SRS)与纵向皮质厚度变化有关自闭症谱系疾病的变化