光通信計測技術の基礎知識第3回：半導体レーザの線幅測定技術の紹介とその測定技術の注意点

摘要

光通信計測技術の基礎知識の第2回では、干渉計、フーリエ変換分光法を用いた測定技術と、この測定技術における注意点について概説をしてきた。特に、通信帯の光を高確度、高分解能に測定する光波長（周波数）測定技術の原理を中心に解説した。そこで、第3回では、「コヒーレント」、「インコヒーレント」というキーワードを導入部分として、「可干渉性」と「スぺクトル線幅（スベタトル幅)」との関係を解説するとともに、これまで紹介してきた分光法では測定できない半導体レーザの発振線幅（スペクトル線幅）を測定する自己干渉技術とその測定技術の注意点に関して述べることにしたい。