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収差補正機能付HD-2700の特長と応用

机译:HD-2700具有像差校正功能的特点和应用

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摘要

産業界では材料機能向上をめざし,様々な組成や構造を持つ材料の開発が進められている。特に21世紀に入り,物質をナノメートルの領域において自在に制御するナノテクノロジー技術が活発化したため,原子分解能の構造解析ニーズが高まった。このようなニーズに対応するため,ドイツCEOS社との共同開発により,球面収差補正装置(Csコレクター)を搭載したHD-2700形走査透過電子顕微鏡(STEM:Scanning transmission electron micro-scope)(以下HD-2700)を開発した(図1)。Csコレクターは,大きな収束角度で微小な電子線プローブを実現できるため,高分解能観察と高感度分析が可能である。
机译:在该行业中,已经进行了具有各种组成和结构的材料的发展以改善材料功能。 特别是,由于纳米技术技术在21世纪,允许物质在纳米区域中自由控制的纳米技术技术,原子分辨率的结构分析需求增加。 为了满足此类需求,HD-2700形扫描透射电子显微镜配备有球形像差校正装置(CS收集器),具有与德国CEOS(Stem:扫描透射电子微型范围)的联合开发(以下称为HD -2700 )开发了(图1)。 由于CS收集器可以以大的收敛角实现小的电子束探针,因此可以实现高分辨率观察和高灵敏度分析。

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