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A new technique for measuring positron impact direct ionisation

机译:一种测量正电子影响直接电离的新技术

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摘要

We present a method for measuring the electron yield in positron impact direct ionisation of atomic or molecular targets using a magnetically confined positron beam. This method can be used to determine the (relative) direct ionisation cross section. The use of this technique and a Surko trap based positron beam allows the electron yield to be measured at impact energies as low as 100 meV above the direct ionisation threshold. Application of this technique to the measurement of the energy dependence of the direct ionisation cross section near threshold is also discussed.
机译:我们介绍了一种测量正电子浓度的电子产量的方法,使用磁局的正电子束使用磁局的正电子束进行原子或分子靶标的电氢。 该方法可用于确定(相对)直接电离横截面。 这种技术的使用和基于SURKO陷阱的正电子束允许在直接电离阈值高于100meV的冲击能量下测量电子屈服。 还讨论了该技术在测量直接电离横截面的能量依赖性附近阈值的测量。

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