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机译:一种校正绝缘样品原子探针质谱中系统能量缺陷的算法
Atom probe microscopy; Field ion microscopy; Insulators; Computational methods;
机译:一种校正绝缘样品原子探针质谱中系统能量缺陷的算法
机译:直接在连续流动表面采样探针/电喷雾电离发射极的形成的液体微结中对材料进行激光烧蚀采样,以进行质谱分析和成像
机译:直接在连续流动表面采样探针/电喷雾电离发射极的形成的液体微结中对材料进行激光烧蚀采样,以进行质谱分析和成像
机译:具有最小采样的球面近场偏移测量的完全探针校正转换SWE算法的验证
机译:正确的线性代数算法的机械推导和系统分析。
机译:在脉冲激光原子探针层析成像过程中控制质谱图中的残留氢气
机译:在脉冲激光原子探针层析成像过程中控制质谱图中的残留氢气
机译:利用原子探针断层扫描技术对高温合金原子位置的修正和完成进行分析。