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机译:使用扫描电子显微镜观察敏感敏感的湿法
JEOL Ltd Akishima Tokyo 1968558 Japan;
JEOL Ltd Akishima Tokyo 1968558 Japan;
JEOL Ltd Akishima Tokyo 1968558 Japan;
JEOL Ltd Akishima Tokyo 1968558 Japan;
JEOL Tech Ltd Akishima Tokyo 1960021 Japan;
Kanto Gakuin Univ Mat &
Surface Engn Res Inst Odawara Kanagawa 2500042 Japan;
SEM; low vacuum; wet specimen; water droplet; wet cover method; aqua cover;
机译:使用扫描电子显微镜观察敏感敏感的湿法
机译:低能Ar〜+离子铣削制备的试样在扫描电子显微镜中敏感的特定于位点的掺杂物映射
机译:无标本真空室的扫描电子显微镜和透射电子显微镜的空间分辨率
机译:粉笔试样对实验室实验的快速溶解方法 - X射线CTSCANNING和扫描电子显微镜记录
机译:原位扫描电子显微镜(sem)观察Titanium-8Aluminum-1mo-1v(wt。%)合金的拉伸和拉伸蠕变变形。
机译:使用扫描电子显微镜观察对蒸发敏感的湿样品
机译:纸浆和纸张标本扫描电子显微镜(SEM)和电子探针微透析(EPMA)的进展。 (第一部分)。观察湿态标本的程序。
机译:用于扫描电子显微镜的样品制备