机译:含纳米硅藻的水泥浆料的孔结构细化:用双束扫描电子显微镜/聚焦离子束(SEM / FIB)的研究
Columbia Univ Dept Civil Engn &
Engn Mech 500 West 120th St New York NY 10027 USA;
Hanyang Univ Sch Architecture &
Architectural Engn Ansan Gyeonggi Do South Korea;
Columbia Univ Dept Civil Engn &
Engn Mech 500 West 120th St New York NY 10027 USA;
Nanosilica; Scanning electron microscopy (SEM)/focused; ion beam (FIB); 3D pore structure; Cement paste;
机译:含纳米硅藻的水泥浆料的孔结构细化:用双束扫描电子显微镜/聚焦离子束(SEM / FIB)的研究
机译:从光学显微镜到分析扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)/ SEM在生物学中:固定坐标,平面嵌入,绝对参考
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机译:使用聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)的数据分析突触小泡的形状和空间相互作用
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