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机译:通道层厚度对高迁移率氧化锌薄膜晶体管的电气和热稳定性的影响
Chung Ang Univ Sch Elect &
Elect Engn Seoul South Korea;
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机译:通道层厚度对高迁移率氧化锌薄膜晶体管的电气和热稳定性的影响
机译:钽掺杂对高迁移率氧化锌薄膜晶体管电特性的影响
机译:钽掺杂对高迁移率氮氧化锌薄膜晶体管电学特性的影响
机译:氟掺杂氧氮化锌薄膜晶体管的电气特性
机译:高k电介质氧化锌薄膜晶体管的电不稳定性和界面电荷的研究。
机译:不同金属覆盖层对P沟道SnO薄膜晶体管电性能和稳定性的影响
机译:有源层厚度对高迁移率非晶铟 - 镓 - 氧化钛薄膜晶体管的电特性及稳定性的影响
机译:聚合物基板上的高迁移率碳纳米管薄膜晶体管。