机译:显微镜目标的系统设计。 第一部分:系统评论和分析
Institute of Applied Physics Friedrich Schiller University Jena Albert-Einstein-Str. 15 07745 Jena Germany;
Institute of Applied Physics Friedrich Schiller University Jena Albert-Einstein-Str. 15 07745 Jena Germany;
aberration correction; microscope objective; microscopy; optical design;
机译:显微镜目标的系统设计。 第一部分:系统评论和分析
机译:显微镜目标的系统设计。 第二部分:镜头模块和设计原则
机译:基于联合分析的个人价值澄清方法:任务设计,统计分析和结果呈现的常见做法系统审查
机译:基于设计的缺陷自动分类和缺陷审查SEM平台对系统弱点结构的分析
机译:音乐对疼痛的影响:系统评价和荟萃分析的综述
机译:系统卫生服务设计交付和改进的系统方法:系统评价和荟萃分析
机译:显微镜目标的系统设计。第一部分:系统评论和分析