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机译:生成透明扫描序列,用于诊断扫描链断层
Purdue Univ Sch Elect &
Comp Engn 465 Northwestern Ave W Lafayette IN 47907 USA;
Diagnostic test generation; full-scan circuits; scan chain faults; transparent-scan;
机译:生成透明扫描序列,用于诊断扫描链断层
机译:全球功能透明扫描序列
机译:通过在逻辑块之间共享透明扫描序列来测试压缩
机译:减少故障数据以诊断透明扫描下的扫描链故障
机译:在扫描内置自检中进行测试生成和故障诊断。
机译:使用加密芯片的扫描链故障诊断无线传感器网络的回归
机译:透明扫描下过渡故障的测试压缩