一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法

摘要

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段.由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,扫描链故障导致的失效可能会占到失效总数的50%,因此本文提出了一种确定性扫描链诊断向量的生成方法。该方法首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量。此后,本文提出了一种故障响应分析方法,在该方法的基础上,可以有效降低候选故障对的数量,从而在不降低诊断质量的前提下减少诊断向量数目,降低了诊断过程的时间开销。实验表明,在测试诊断精确度,故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法。