高調波測定のA to Z〈第13回〉：IP{sub}3の測定

市川裕一; Yuichi Ichikawa

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高調波測定のA to Z〈第13回〉：IP{sub}3の測定

机译：测量A到Z <至Z <13>：谐波测量的IP {SUB} 3

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前回は，回路に1信号が入力されたときに観測される高調波ひずみとP{sub}(1dB)の測定を取りあげました．今回は，回路に2信号が入力されたときに観測される相互変調ひずみを測ります．

机译：最后一次，当一个信号输入电路时，我拍摄了观察到的谐波失真和p {sub}（1 db）。这次，测量当两个信号输入到电路时观察到的互调应变。

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来源
《トランジスタ技術》 |2005年第5期|共4页
作者
市川裕一; Yuichi Ichikawa;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 jpn
中图分类半导体三极管（晶体管）;
关键词
入库时间 2022-08-19 22:17:01

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