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机译:理解原子尺度扫描透射电子显微镜图像的扫描系统扭曲,以获得精确的晶格参数测量
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机译:高角度环形暗场扫描透射电子显微镜确定应变Al_(0.14)Ga_(0.86)N / GaN超晶格各层的厚度和晶格畸变
机译:模型氧化物接口的原子尺度扫描透射电子显微镜 - 能量分散X射线光谱(STEM-EDS)映射的测量误差
机译:局部晶格应变测量使用扫描透射电子显微镜的暗场图像几何相位分析
机译:通过扫描透射电子显微镜对嵌入和支撑的纳米结构的原子尺度表征。
机译:结构和组成复杂的Mo–V–Nb–Te氧化物催化剂的高角度环形暗场扫描透射电子显微镜图像的多层冷冻声子模拟
机译:抗截玻片扫描透射电子显微镜成像严重格子畸变