...
机译:水浸拉曼光谱法评价Si功率晶体管沟槽闸门沟槽围绕沟槽的评价
Meiji Univ Sch Sci &
Technol Kawasaki Kanagawa 2148571 Japan;
Meiji Univ Sch Sci &
Technol Kawasaki Kanagawa 2148571 Japan;
Toshiba Elect Devices &
Storage Corp Minato Ku Tokyo 1058001 Japan;
Toshiba Elect Devices &
Storage Corp Minato Ku Tokyo 1058001 Japan;
Toshiba Elect Devices &
Storage Corp Minato Ku Tokyo 1058001 Japan;
Meiji Univ Sch Sci &
Technol Kawasaki Kanagawa 2148571 Japan;
Raman spectroscopy; silicon; trench structure; anisotropic biaxial stress; power device;
机译:水浸拉曼光谱法评价Si功率晶体管沟槽闸门沟槽围绕沟槽的评价
机译:高数值孔径浸没物镜的拉曼光谱法评估各向异性双轴应力
机译:油浸拉曼光谱法测量Si_(1-x)Ge_x / Si台面结构中的各向异性双轴应力
机译:使用水浸拉曼光谱法的碳掺杂硅的各向异性双轴应变评估
机译:在施加的偏压和栅极电压下,悬浮碳纳米管场效应晶体管中的拉曼光谱和电传输。
机译:应变使柔性有机晶体管的电荷载流子迁移率大幅各向异性增强:霍尔效应和拉曼研究
机译:电化学门控石墨烯晶体管的拉曼光谱: 几何电容,电子 - 声子,电子 - 电子和 电子缺陷散射