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Electronic structure of VxTi1-xSe2 in wide concentration region (0.06 <= x <= 0.9)

机译:VXTI1-XSE2在宽浓度区域中的电子结构(0.06 <= x <= 0.9)

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摘要

An experimental study of the electronic structure of VxTi1-xSe2 system in a wide range of vanadium concentrations (x = 0.06-0.9) using x-ray photoelectron spectroscopy and resonant photoelectron spectroscopy has been performed. The partial charge transfer from the VSe2 to TiSe2 structural fragments is experimentally observed, and the most part of the charge is localized on the vanadium atoms in the VSe2 structural fragments. Published by AIP Publishing.
机译:已经进行了使用X射线光电子谱和谐振光电子谱的宽范围钒浓度(X = 0.06-0.9)中的VXTI1-XSE2系统电子结构的实验研究。 从VSE2到TISE2结构片段的部分电荷转移是通过实验观察到的,并且大部分电荷在VSE2结构片段中的钒原子上局部化。 通过AIP发布发布。

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