机译:透射谱对电介质一维光子晶体耦合的超导缺陷的温度和厚度的依赖性
Univ Nacl Colombia Dept Fis Bogota 055051 Colombia;
Univ Nacl Colombia Dept Fis Bogota 055051 Colombia;
Photonic crystal; Temperature; Superconductor; Defect mode; Transfer-matrix method;
机译:透射谱对电介质一维光子晶体耦合的超导缺陷的温度和厚度的依赖性
机译:基于具有介电超导对缺陷的一维光子晶体的低温传感器
机译:一维超导体-电介质光子晶体的透射光谱
机译:具有超导缺陷层的一维光子晶体的光子带隙谱的温度和厚度依赖性
机译:用于ULSI互连应用的低k电介质的关键特性和可靠性:厚度和温度依赖性。
机译:耦合至一维光子晶体的染料分子定向发射的后焦平面成像
机译:具有超导缺陷的一维光子晶体