机译:光电应用的不同厚度的光学常数,分散参数和非线性为AS40S45Se15薄膜
Al Azhar Univ Fac Sci Phys Dept Assiut 71542 Egypt;
Al Azhar Univ Fac Sci Phys Dept Cairo 11884 Egypt;
Al Azhar Univ Fac Sci Phys Dept Cairo 11884 Egypt;
Al Azhar Univ Fac Sci Phys Dept Cairo 11884 Egypt;
Al Azhar Univ Fac Sci Chem Dept Assiut 71542 Egypt;
King Khalid Univ Fac Sci Phys Dept POB 9004 Abha Saudi Arabia;
Thin films; As40S45Se15; Structure parameters; Optical constants; Optical dielectric; Swanepoel methods; Linear and nonlinear refractive index;
机译:光电应用的不同厚度的光学常数,分散参数和非线性为AS40S45Se15薄膜
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