机译:基于扫描非线性介电显微镜的纳米级线性介电常数
Tohoku Univ Res Inst Elect Commun Aoba Ku 2-1-1 Katahira Sendai Miyagi 9808577 Japan;
Tohoku Univ Res Inst Elect Commun Aoba Ku 2-1-1 Katahira Sendai Miyagi 9808577 Japan;
Tohoku Univ Res Inst Elect Commun Aoba Ku 2-1-1 Katahira Sendai Miyagi 9808577 Japan;
scanning probe microscopy; scanning nonlinear dielectric microscopy; permittivity dielectric material; dielectric thin films;
机译:基于扫描非线性介电显微镜的纳米级线性介电常数
机译:基于扫描非线性介电显微镜的纳米铁电信息存储
机译:基于超高阶扫描非线性介电显微镜的局部深能级瞬态光谱技术对SiO_2 / SiC界面中陷阱分布的二维成像
机译:基于Boxcar平均的扫描非线性介电显微镜及其在二维半导体载流子成像中的应用。
机译:砷化镓(001)上砷化铟高度应变外延的扫描探针显微镜研究,以及基于扫描探针的纳米级三维物体的成像和操作。
机译:使用扫描电子辅助介电显微镜在辐射损伤低的介质中对未经处理的哺乳动物细胞进行纳米成像
机译:使用扫描电子辅助介电显微镜辐射损伤的介质中未处理哺乳动物细胞的纳米级成像