Assessment of structural, optical and conduction properties of ZnO thin films in the presence of acceptor impurities (vol 28, 224008, 2016)

Plugaru R.; Plugaru N.

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Assessment of structural, optical and conduction properties of ZnO thin films in the presence of acceptor impurities (vol 28, 224008, 2016)

机译：在存在受体杂质的情况下评估ZnO薄膜的结构，光学和导电特性（第28卷，224008，2016）

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《Journal of Physics. Condensed Matter》 |2016年第18期|共1页
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Plugaru R.; Plugaru N.;
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