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机译:基于正电子an没研究的氢化硅膜的纳米结构分析
Doppler broadening positron annihilation spectroscopy (DB-PAS); Fourier Transform infrared spectroscopy; Hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H); Hydrogenated microcrystalline silicon (μc-Si:H); Nanostructure;
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机译:正硅An灭研究硅中富氧和富硅SiO_2薄膜中的纳米析出物:空位样缺陷的作用
机译:恒光流加正电子An没研究氢化非晶硅中的缺陷
机译:PECVD氢化非晶硅膜和HWCVD氢化非晶硅膜的质子NMR研究。
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机译:紫外线诱导亚硅悬空粘合氢化非晶氮化硅膜中的硅湮灭
机译:正电子湮没研究陶瓷和薄膜pb(Zr,Ti)O3材料中的空位相关缺陷