机译:最佳浮栅电势,用于扩展后烘烤方法的数据保持能力,每单元NAND闪存低于20 nm三重级
NAND Flash Memory; Program/Erase (PE) Cycling; Post-Baking Method;
机译:最佳浮栅电势,用于扩展后烘烤方法的数据保持能力,每单元NAND闪存低于20 nm三重级
机译:通过使用新型数据编程方法,为每单元20纳米以下三级NAND闪存提供出色的数据保留
机译:1Xnm三级单元NAND闪存中的快速低密度奇偶校验和动态阈值电压优化,并全面分析了耐久性,保留时间和温度变化
机译:一种新的浮栅电池结构,具有用于子20nm NAND闪存的氮化硅帽层
机译:65 nm技术中的1G-Cell浮栅和闪存,具有100ns随机接入时间