机译:衬底温度对Aurivillius Bi6Ti3Fe2O18薄膜的微观结构和铁电性能的影响
Thin films; X-ray diffraction; Scanning tunneling microscopy; Piezoelectricity; Domain structure;
机译:衬底温度对Aurivillius Bi6Ti3Fe2O18薄膜的微观结构和铁电性能的影响
机译:退火温度对Aurivillius Bi_5Ti_3FeO_(15)多晶膜的结构,铁电和磁性的影响
机译:La掺杂对Aurivillius Bi_6Fe_(1.4)Co_(0.6)Ti_3O_(18)薄膜的结构,磁性和铁电性能的影响
机译:基质温度对氮杂目标DC磁控溅射的铝锌薄膜微观结构和性能的影响
机译:基材对铅基铁电薄膜的结构和电性能的影响。
机译:加热方式和温度对钼薄膜微结构电学和光学性质的影响
机译:C轴取向Bi6Ti3Fe2O18 aurivillius相薄膜局部铁电性能的温度依赖性研究:说明新型无铅钙钛矿材料在高密度存储器应用中的潜力
机译:微结构和超晶格对铁电薄膜光学性质的影响