机译:飞行时间二次离子质谱法和接触角测量法研究环氧树脂的后固化反应和表面能
机译:飞行时间二次离子质谱法和接触角测量法研究环氧树脂的后固化反应和表面能
机译:飞行时间二次离子质谱研究分子表面
机译:结合飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)和高灵敏度低能量离子散射(HS-LEIS)对能源材料进行表面分析的新观点
机译:(邀请)通过循环伏安法与飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)的组合来研究铜电沉积层上添加剂的相互作用和分子结构的研究(TOF-SIMS)
机译:质谱分析离子动能谱法研究反应势能面
机译:使用水接触角测量和飞行时间二次离子质谱法发现热响应材料的高通量
机译:通过飞行时间二次离子质谱法调查银纳米粒子诱导的脂质的脂质对单个细胞表面的变化
机译:核法证学:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-sIms)测量氧化铀