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飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件

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摘要

本发明提供一种飞行时间二次离子质谱分析装置用的试样固定部件，其能够防止固体试样的污染，能够稳定地固定固体试样，并且在飞行时间二次离子质谱分析装置中能够实现二次离子的准确检测。本发明的飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件包含具备多个长度200μm以上的纤维状柱状物的纤维状柱状结构体。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-03-01

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N27/64 申请公布日:20141001 申请日:20130129

发明专利申请公布后的视为撤回
2014-10-29

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/64 申请日:20130129

实质审查的生效
2014-10-01

公开

公开

1. 飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件 [P] . 中国专利： CN104081195A . 2014-10-01
2. 飞行时间质谱仪和在飞行时间质谱仪中分析离子的方法 [P] . 中国专利： CN101601119A . 2009-12-09
3. METHOD FOR ANALYZING NUCLEIC ACID HYBRIDIZED PRODUCT BY FLIGHT TIME TYPE SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD USING HALOGEN LABEL [P] . 日本专利： JP2004033038A . 2004-02-05

机译：时标二次离子质谱法飞行时间型二次离子质谱法分析核酸杂交产物
4. The ion analysis method in a time-of-flight mass spectrometer and a time-of-flight mass spectrometer [P] . 日本专利： JP5541374B2 . 2014-07-09

机译：飞行时间质谱仪中的离子分析方法和飞行时间质谱仪中的离子分析方法
5. The ion analysis method in a time-of-flight mass spectrometer and a time-of-flight mass spectrometer [P] . 日本专利： JP5218420B2 . 2013-06-26

机译：飞行时间质谱仪中的离子分析方法和飞行时间质谱仪中的离子分析方法