...
机译:C_3的4051-A频段(A〜1PI_u-X〜1SIGMA_g〜+ 000-0000):扰动的低J线和寿命测量
机译:C_3的4051-A频段(A〜1PI_u-X〜1SIGMA_g〜+ 000-0000):扰动的低J线和寿命测量
机译:C-3的4051埃带((A)波浪线(1)Pi(u)-(X)波浪线(1)Sigma(+)(g),000-000):扰动的低J线路和寿命测量-艺术。没有。 244308
机译:C-3的4051埃带((A)波浪线(1)Pi(u)-(X)波浪线(1)Sigma(+)(g),000-000):扰动的低J线路和寿命测量-艺术。没有。 244308
机译:乙炔(1)+ V_(3)条带中的频率梳理参考测量的自我和氮气扰动线形状
机译:使用非接触热激励寿命测量来评估宽带隙半导体中的电子衰减。
机译:高分辨率寿命测量的扰动J'= 0级吡嗪状态的级别
机译:a = 190和a = 150区域的寿命测量和相同的sD频带