利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法

摘要

公开了用于测量单模光纤偏振模色散(PMD)的系统和方法。该方法能在低模式耦合状态下更快速和更简单地测量内在超低PMD光纤。该方法包括将多个局部外部扰动引入该光纤上，在此之后使该光纤达到一种稳定状态，然后使用标准测量技术测量微分群延迟。改变多个局部外部扰动，然后对微分群延迟进行另一次测量。在获得足够数量测量结果之后，提供麦克斯韦分布，可以计算该分布的平均值作为偏振模色散值。