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机译:在真空-紫外光谱范围内用椭圆偏振光谱法测定的六方AlN薄膜的介电功能
Iii-v nitrides; Aluminum nitride; Temperature-dependence; Optical-properties; Gallium nitride; Gan epilayers; Wurtzite gan; Strain; Transitions; Constants;
机译:在真空-紫外光谱范围内用椭圆偏振光谱法测定的六方AlN薄膜的介电功能
机译:Hg_(1-x)Cd_xSe薄膜的介电函数和载流子浓度
机译:椭圆偏振光谱法测定Zn_(1-x)Mn_xSe薄膜的近带隙介电函数
机译:椭圆偏振光谱法测定氢化非晶硅薄膜的红外介电功能
机译:通过超临界二氧化碳处理的纳米微孔低介电常数薄膜的光谱椭圆偏振分析,适用于下一代微电子设备。
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:椭圆偏振光谱法研究块体Ti2AlN,Ti2AlC,Nb2AlC,(Ti0.5,Nb0.5)2AlC和Ti3GeC2 MAX相的介电功能