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机译:硅裂解过程中形成的大规模电子结构理论和纳米缺陷
order-N electronic-structure theory; nanoscale defect; surface process of silicon; bias-dependent STM image; SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY; MOLECULAR-DYNAMICS SIMULATION; SI(111)2X1 SURFACE; WANNIER STATES; RECONSTRUCTION; FRACTURE;
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机译:纳米级随温度变化的硅的机械变形:相变与缺陷扩散
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机译:随机缺陷形成的理论和表征及其对纳米级晶体管变异性的影响。
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