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机译:利用不同相位算法的混合干涉显微镜测量薄膜的表面粗糙度
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机译:原子力显微镜研究SiO / sub 2 /上沉积的硅薄膜的表面粗糙度
机译:一种低成本,可靠的光学检测系统,用于快速测量多晶线薄膜的表面粗糙度
机译:表面粗糙度的原子力显微镜测量在表面和薄膜光学中的光学粗糙度
机译:表面等离子共振系统的薄膜干涉和超薄膜紫外线超吸收体结构。
机译:原子洞察铝掺杂对沉积超薄银膜表面粗糙度的影响
机译:扫描探针显微镜通过扫描细陶瓷薄膜表面粗糙度测量标准化