机译:两种可靠表征金属介电薄膜的技术的比较
机译:两种可靠表征金属介电薄膜的技术的比较
机译:BST薄膜微波表征技术的比较
机译:用于传感应用的有机薄膜晶体管的浮动探针瞬态技术的浮动探针瞬态技术与阈值电压
机译:超薄SOI膜的电学特性:伪MOSFET和Hg-FET技术的比较
机译:使用原位技术的纳米晶薄膜变形机制的实验表征
机译:AFM纳米压痕和金纳米粒子包埋技术测量聚合物薄膜性能的比较
机译:两种可靠表征金属介电薄膜的技术的比较
机译:离子镀技术制备氢化非晶硅薄膜和薄膜太阳能电池的制备与表征。最终报告,1979年1月1日至1980年5月31日