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机译:使用单波长椭圆仪和逆向工程原位测定多层结构的厚度
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机译:用单波长零椭圆法测量SiO2 / Si结构中界面层的厚度
机译:反射椭圆仪用于在多个入射角和频率下原位确定单层材料的复介电常数和厚度
机译:用于在微波频率下的单层材料的配合介电常数和单层材料厚度的反射椭圆形测量:理论和实验
机译:使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。
机译:银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散:透射法迭代椭偏法测定。
机译:原位单波椭圆偏振法模拟量子阱结构层厚测量
机译:椭偏法同时测定极薄膜的折射率和厚度