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プログラム可能データパスとSMTソルバーを利用した高位設計デバッグ手法

机译:使用可编程数据路径和SMT求解器的高级设计调试方法

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摘要

近年、Look-up Table (LUT)のようなプログラム可能回路を利用した論理回路の自動デバッグ手法が提案されている。この手法では、回路中にLUTを挿入し、SATソルバーを用いて、回路が仕様を満たすようなLUTの論理定義を求めることによって論理修正を行う。この考え方は、LUTの代わりにUninterpreted Function (UIF)を利用することによって、ワード変数とそれらに対する演算が記述される高位設計に適用することができる。この場合、SATソルバーの代わりに、ワード変数や算術演算を含む論理式のSAT問題を効率良く解くことができるSMTソルバーが使われる。しかし、一般的に、UIFを利用した手法においては、得られた誤り修正の解を限られた種類の利用可能な演算(器)で実現することは容易ではない。そこで、UIFではなく、プログラム可能なデータパスを利用することにより、利用可能な演算によって実装可能な誤り修正を求める手法を提案する。提案するプログラム可能データパスでは、与えられた演算を最大N回まで適用する任意のデータパスが表現可能であり(Nは指定された数)、その中に仕様を満たす構成が含まれるかをSMTソルバーで解く。いくつかの例題に対して、仕様を満たすプログラム可能データパスの構成を求める実験を行い、その性能を評価する。
机译:近年来,已经提出了使用诸如查找表(LUT)的可编程电路的用于逻辑电路的自动调试方法。在该方法中,将LUT插入电路中,并使用SAT解算器通过查找LUT的逻辑定义来执行逻辑校正,以使电路满足规格要求。此想法可以应用于通过使用未解释函数(UIF)而不是LUT描述单词变量和对其进行操作的高级设计。在这种情况下,代替了SAT求解器,使用了可以有效解决包括单词变量和算术运算在内的逻辑表达式的SAT问题的SMT求解器。然而,通常,在使用UIF的方法中,以有限数量的可用操作(仪器)来实现所获得的纠错解决方案并不容易。因此,我们提出了一种寻找纠错的方法,该方法可以通过使用可编程数据路径而不是UIF通过可用操作来实现。提议的可编程数据路径可以表示应用最多N次(N是指定数目)的给定操作的任何数据路径,并且可以表示SMT是否包含符合规格的配置。用求解器求解。对于某些示例,我们将进行实验以找到符合规格的可编程数据路径的配置并评估其性能。

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