基于反馈的SMT求解器性能测试用例约简方法

摘要

本发明属于软件测试领域，涉及一种用于约简触发SMT求解器性能故障的测试用例的技术，具体为一种基于反馈的SMT求解器性能测试用例约简方法。首先验证输入的测试用例是否可以触发SMT求解器性能故障，然后使用二分搜索法通过比较代码覆盖率相似度对触发SMT求解器性能缺陷的测试用例断言数目进行约简，最后通过顺序替换断言中节点的方法简化测试用例中每一个断言的公式嵌套深度，从而生成最小化的测试用例。本发明能够对触发SMT求解器性能故障的测试用例进行有效约简，使用尽可能简单的测试用例充分满足给定的测试目标，从而提高测试效率、降低测试成本，可以帮助开发者更好地找到SMT求解器相关的性能故障，提高求解器的质量。