単一縮退故障用テストパターン生成を利用した多重縮退故障用テストパターン生成

摘要

本研究では、LSIの製造工程において発生しうる多重縮退故障を、より少数で検出するようなテストパターンの生成手法を検討する。本研究では、文献日の手法により生成された単一縮退用のテストパターンを、ATPGツールであるABC［］の入力テストパターンとして用い、多重縮退故障を検出するテストパターンを生成する。すなわち、多重故障用のテストパターンを、単一縮退故障用のテストパターンに追加する方法で求める。また、多重故障の完全な検出のために追加のテストパターンを要した場合のテスト対象の回路及び生成されたテストヾターンについて、具体的な回路を用いて検討する。単一故障検出に特化したテストパターンの組では、従来の圧縮手法のもとで生成された場合、どのようにテストパターンの組を生成したとしても、回路構造の特徴に起因する理由によって検出不可能な多重故障が存在する場合がある。そのため、単一縮退故障を最小数で検出するテストパターンの代わりに、各単一縮退故障を複数回検出する（N回検出）テストパターン生成で得られたテストパターンを基にして多重故障用のテストパターン生成を行なう手法の評価も行なう。