テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト

摘要

LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する．本稿では，X判定技術とX割当技術を用いることで，テストデータ量の増加や故障検出能力の低下がなく，消費電力の高いテストベクトルを消費電力の低いテストベクトルに変換する．ITC-99ベンチマーク回路に対する実験では，提案手法が従来手法より消費電力を削減できることを示す．