小型デバイスの高電界印加に適したストリップライン構造EMS試験装置

摘要

近年，デバイス製品でのEMC試験の実施要望が増えてきている．セット商品のEMS試験装置にはTEMセルが多く用いられている．しかし市販されているTEMセルでは，小型デバイスのEMS試験で要求されている高い電界を印加するのに大規模な電力増幅器が必要となり，実施が困難である．そこで高電界の印加を可能とし，作業性が良く，測定時間短縮が図れるストリップライン構造を用いた小型のEMS試験装置を開発した．EMS試験装置に要求される周波数の広帯域化を図るためテーパーライン構造に対する解析と実験を行い，2GHz帯まで良好なインピーダンス特性を得ることに成功した．試験装置内の磁界分布を測定することによって，低い入力電力で所望の高電界が得られることを実証した．さらに一様な磁界を発生している空間領域を定量的に評価し，開発装置によって測定可能なデバイスの大きさを明らかにした．最後に磁界分布変動のメカニズムと改善策を検討した．