マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法

摘要

論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である．スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案されているが，キャプチャパターンのスキャン出力時の電力制御は必ずしも容易ではなくこれまでの研究も多くない．本研究ではマルチサイクルBISTを活用したスキャン出力時の電力低減手法を提案する．スキャン出力時に一部のFF（Flip-Flop）の値を書き換えることにより，故障検出率の低下を押さえながら，スキャン出力時の電力を低減できることを示す．