無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

摘要

無閉路順序回路のクラスはτ^2-boundedであり,実用的にテスト容易と考えられている[2],[3].さらに,τ^2-boundedでありながら,無閉路順序回路より広いクラスとして,無閉路可検査順序回路[4],拡張無閉路順序回路[5]が提案されている.これらの順序回路の条件は,主にスルー機能で定義されており,一般の順序回路に対して,これらのクラスに基づくテスト容易化設計はスルー機能の付加によって実現できる.よって,そのハードウエアオーバヘッドは,従来の完全スキャン設計に比べて大きく削減できる.本研究では,与えられた順序回路が拡張無閉路可検査性を満たすために付加する必要のあるスルーコストを最小化するための最適スルー木構成法について考察する.拡張無閉路可検査性に基づくテスト容易化設計における最適ズルー木集合を求める問題を定式化し,その問題を整数計画問題として表現する.実験により,本手法の有効性を示すとともに,拡張無閉路可検査性の有効性を確認する.