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浮遊電極測定を用いたGANショットキーバリアダイオードの順方向特性の解析

机译:用浮动电极测量分析GAN肖特基势垒二极管的正向特性

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摘要

GaNショットキーバリアダイオード(SBD)を高電力で使用する場合,逆方向だけでなく、順方向にも大きな電圧が印加される。そこで、順方向に高電圧6Vまで印加したときの特性を,浮遊電極を使った測定とデバイスシミュレーションにて解析した.順方向特性の電流は高電圧にて飽和傾向を持つ特徴的な傾向を示した.解析の結果,低電圧領域では真性SBDの特性が支配的であるが,高電圧領域では電極間のエピ抵抗が大きく影響することがわかった.このエピ抵抗は電圧が増加すると抵抗が増加する非線形な特性で,電極端の電界集中により電子速度の増加が抑制されたためと考えられる.
机译:当以高功率使用GaN肖特基势垒二极管(SBD)时,不仅在反方向而且在正方向都施加了大电压。因此,通过使用浮置电极的测量和装置仿真来分析正向施加高达6V的高压时的特性。正向特性电流表现出在高压下饱和的特性趋势。分析的结果发现,本征SBD的特性在低压区域占主导,但是电极之间的外延电阻在高压区域具有很大的影响。该外延电阻是非线性特性,其中电阻随着电压的增加而增加,并且认为电子速度的增加被电极端处的电场集中抑制了。

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