「等価くぼみ深さ△h_e」を用いた工業的硬さ値について

摘要

研究室的なナノインデンテーションに用いられている計装化押込み試験は，現状では複雑な補正や充分な予備知識と技能が求められており，工業的利用は進んでいない。等価くぼみ深さ試験は，従来の試験方法とは異なり，マクロからナノ領域までを一貫して一つのスケールで評価できる試験方法として開発されたもので，本報告では，この試験方法を工業的に用いることにより期待される効果について検討を行った。