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【24h】

オンチップ微粒子操作のための容量変化検出回路の低電源電圧化

机译:降低用于片上微粒操作的电容变化检测电路的电源电压

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摘要

本研究では,誘電泳動による微粒子操作において,粒子の捕捉センシングを行う回路を設計した.操作した微粒子が検出用電極付近に近づくと,電極間容量が変化する.CBCM(Charge-Based Capacitance measurement)回路を用いて,センサ電極容量の変化を電流変化として検出し,電流を矩形波に変換することによって,この容量変化を周波数変化として取り出すことができる.さらに,参照信号とセンサ信号をデジタル回路で周波数比較することで容量差を検出し,微粒子を検出する仕組みである.この容量変化検出回路を0.18-μm CMOSプロセスを用いて設計·試作した.実験により,センサとして必要であると考えられる4fFの容量差をデジタルコードで出力できた.設計した回路には,低電源電圧化のための工夫を施した.また,さらなる低電源電圧化のための回路も設計し,シミュレーションによって動作を確認した.
机译:在这项研究中,我们设计了一种电路,该电路通过介电迁移来捕获和感测细颗粒的操纵中的颗粒。当操作的微粒接近检测电极附近时,电极之间的电容改变。通过使用CBCM(基于电荷的电容测量)电路,可以将传感器电极电容的变化检测为电流变化,并将电流转换为矩形波,然后将该电容变化提取为频率变化。此外,它是一种通过将参考信号和传感器信号的频率与数字电路进行比较来检测电容差并检测微粒的机制。该电容变化检测电路是使用0.18μmCMOS工艺设计和原型的。通过实验,我们能够用数字代码输出4fF的电容差,这被认为是传感器所必需的。设计电路的目的是降低电源电压。我们还设计了进一步降低电源电压的电路,并通过仿真确认了操作。

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