Chain FeRAM技術概要とScalingに適したShield-Bitline-Overdrive技術

摘要

本論文では、高密度化／高速化／高バンド幅化が可能なChain FeRAM技術の概要と、Scalingに適したShield-Bitline-Overdrive技術について述べる。提案するOverdrive技術は、微細化、低電圧化で顕在化するセル信号バラツキ起因の信号劣化やノイズを大幅に改善する。1.3V動作でTail-to-Tailのセル読出し信号量が90mVから180mVの2倍に増加した。