デジタルアシスト·アナログテスト技術－ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術

摘要

この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し，次の2つの内容について考察する．（i）デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある．この製造出荷時テスト法に関する考察を行う．（ii）微細CMOS SoC内ではDSPコア，メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い．これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する．