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ジッタオーバサンプリング技術を用いた1ps分解能ジッタ測定マクロの開発

机译:使用抖动过采样技术开发1ps分辨率抖动测量宏

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摘要

実アプリケーション動作中のチップ内におけるクロックのタイミングジッタを連続的に測定できる高分解能ジッタ測定マクロを開発した.本マクロの特徴としては,1psの分解能を実現するための技術としてinterpolated jitter oversampling技術やfeedforwardキャリブレーション技術を導入している.さらに,PLLのランダムジッタ(Rj)の測定や電源ノイズの影響を受けたジッタ(Dj)の測定など,その特徴に応じて測定範囲や分解能を切り替えるための階層的vernier delay line技術も導入した.
机译:我们开发了一种高分辨率抖动测量宏,可以在实际应用操作期间连续测量芯片中的时钟时序抖动。作为此宏的功能,我们引入了内插抖动采样技术和前馈校准技术,以实现1ps的分辨率。此外,我们还引入了一种分层游标延迟线技术,用于根据其特性切换测量范围和分辨率,例如PLL的随机抖动(Rj)的测量以及受电源噪声影响的抖动(Dj)的测量。

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