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衛星搭載用半導体メモリ装置に対するシングルイベント効果の実測

机译:实际事件对卫星安装式半导体存储设备的单次事件影响的实际测量

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摘要

宇宙航空研究開発機構(JAXA)では,衛星搭載用半導体メモリ装置内で使用する民生メモリ素子の特性評価および軌道上実証のため,2002年2月に民生部品·コンポーネント実証衛星(つばさ:MDS-1)を打ち上げた.MDS-1は静止トランスファー軌道のため,強い放射線帯を毎周回通過する.本実験にて,大量の64Mbit DRAMサンプルで発生するシングルイベント効果(SEE)およびトータルドーズ効果を長期間に渡り実測した.その結果,実環境下でのSEU発生率を算出でき,そのエラーに対する2種類の誤り検出·訂正機能を確認した.本稿ではMDS-1搭載の半導体メモリ装置(SSR)ミッションにて実測したSEEについて述べる.
机译:2002年2月,航空航天研究与发展组织(JAXA)发射了一个民用零部件示范卫星(Tsubasa:MDS-1),以评估安装在卫星上的半导体存储设备中使用的消费者存储元件的特性,并在轨道上对其进行验证。 ) 已启动,推出。由于MDS-1是静止的转移轨道,因此它每轮都要经过一个强辐射带。在该实验中,长时间测量了在大量64 Mbit DRAM样本中产生的单事件效应(SEE)和总剂量效应。结果,可以计算出实际环境中的SEU发生率,并且确认了两种类型的错误检测/纠正功能。本文介绍了由配备MDS-1的半导体存储设备(SSR)任务实际测量的SEE。

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