微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法～いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅

摘要

著者らは，超磁歪アクチュエータと並行板バネを用いることより，電子デバイスを直接微小摺動させることができる機構（MSMI）を設計·開発している，また，圧電アクチュエータと弾性ヒンジを用いた（MSM2）を設計·開発している．本論文では，電気接点劣化過程の解析を行いうる指標の1つとして最小摺動振幅を提案する．最小摺動振幅とは，各条件（接触摩擦力·入力波形·ピン数）において接触電圧が上昇する振幅の最小値のことであり，それ以上ではたいてい抵抗上昇がみられるが，それ以下ではほとんどみられない振幅のことである．MSMIおよびMSM2を用いた実験により，各条件下で，各アクチュエータの摺動振幅を調整することで基板用コネクタおよびピン単体に対して微小摺動を与え，この最小摺動振幅を見積る．さらに，この最小摺動振幅データを統計処理をすることで，各条件が重要な要素であることを示す．