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Ultra-High Precision Measurement and Positioning System

机译:超高精度测量定位系统

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摘要

Institute of Physics, Academia Sinica develops scanning probe microscopy for 2 decades, which generates ultra-high precision measurement and positioning techniques. Those techniques can be custom designed for multi-axes linear, angular, rotational measurement and actuation as a core of precision instruments. In this article, we will introduce spectrometer, laser interferometer, laser auto-collimator systems for precision measurements and nano-scale positioning systems for precision positioning.
机译:中国科学院物理研究所发展扫描探针显微镜已有20多年的历史,它产生了超高精度的测量和定位技术。这些技术可以定制设计用于多轴线性,角度,旋转测量和驱动,作为精密仪器的核心。在本文中,我们将介绍用于精密测量的光谱仪,激光干涉仪,激光自动准直仪系统以及用于精密定位的纳米级定位系统。

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