定在波同軸管内の共振試料に対する非接触相互変調ひずみ測定法

摘要

本稿では，受動素子で生ずる相互変調ひずみ(PIM: Passive Intermediation)の評価法として定在波同軸管と共振試料を用いた非接触測定法を提案している．本手法は同軸管と被測定試料間の電磁的相互結合を利用することで従来法で必須であったはんだ付け接続を不要とし，導体材料で生ずるPIMレベルの非接触測定を可能としている．共振試料を用いることで直接電流を印加する従来法とほぼ同等の測定感度を実現し，高感度な測定を行っている．提案手法の有効性を金属細線を用いた2GHz帯の実験によって検討している．さらに，提案手法を用いたPIM評価の応用例として，PIM源の長さや位置によるPIM特性，ストリップ導体のPIM特性評価を行っている．